TD1系列
对射型边缘测量传感器TD1系列，受光素子采用CMOS元器件，实现边缘位置的高精度测量。
- 边缘测量、宽度.间距测量可选。
- 采用宽光幕激光: 3x14mm。
- 配置RS-485通信方式。
- 采样周期: 500μs。
- 配置光轴对焦调整机能，安装简便。
边缘测量
测量部件/薄膜的边缘位置等最适合需要边缘控制的设备。
宽度·间距测量
小型电子部件的宽度测量与滚轴的缝隙测量等，可根据检测内容更改检测方法。
轻松调整光轴
通过感应头位置调整模式，当出现光轴倾斜时,指示灯闪烁，以起提示作用。在安装传感器和定期维护时，很容易进行光轴确认。
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紧凑型设计
传感器的紧凑化,在空间有限的设备内也可以很方便地安装。
为设备的小型化做出贡献。
激光位移传感器控制器单元
CDA系列
CDA-DM
CDA-DM系列搭载有机EL显示屏，能够清晰地显示设定项目和测量值，可同时连接两套TD1系列进行测量值演算。搭载的显示画面,提供日语与英语两种语言可选。
简单示教
可以将有效测:量范围内的任意位置作为被测物的边缘基准位置。只需在被测物调整好基准位置之后按下示教按钮即可。
演算功能
同时连接两套TD1系列，可测量外径10mm以上的圆柱型工件。
 圆柱型工件的外径测量 |
系统配置
※ 一个控制器CDA-DM系列可同时连接两套TD1系列。
可选购件
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 ※ 连接控制器单元CDA系列使用时，请将传感器·控制器间的电缆线长度控制在10m以内。 |
应用
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| 薄膜缠绕控制（纠偏测量） | 薄膜弯曲控制·边缘测量 | 圆柱体的外径测量 |
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| 晶片边缘测量 | 电子部件的方向判别 | 瓶盖浮起检测 |
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| 橡胶板边缘缺损检测 | 滚轴缝隙检测 | |